NPI研發(fā)階段PCBA功能測(cè)試治具的快速迭代設(shè)計(jì)策略
在新產(chǎn)品導(dǎo)入（NPI）研發(fā)階段，印刷電路板組件（PCBA）的功能測(cè)試治具對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量和加速產(chǎn)品上市進(jìn)程起著關(guān)鍵作用。隨著市場(chǎng)競爭的加劇和技術(shù)的快速更迭，產(chǎn)品開發(fā)周期不斷壓縮，這就要求 PCBA 功能測(cè)試治具能夠?qū)崿F(xiàn)快速迭代設(shè)計(jì)，以適應(yīng)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的頻繁變更和對(duì)測(cè)試效率、精度的更高要求。
